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改訂: 2024年05月28日
番号 メーカー 機種名 構成 - モデル 年式 仕様 備考
EG2193-3 HOZAN 検査機、ICT 実態顕微鏡(卓上式)  
3台
実態顕微鏡
L-50

LED照明仕様(LEDに交換済み)
接眼レンズ:WF10X(10倍)
レンズ倍率:X1 & X2切換え
( 10倍/20倍)

EG2193-4 ? 検査機、ICT 1台 拡大鏡(130mm径)
(LEDランプに変更済み)



EG2222-1 日本ヴィジョン 検査機、ICT 光学式卓上検査   マイクロスコープ
光学ビジョン式
台数・・1台
2008/ 本体 リンクスSTEREO 2004/ 対物レンズ…×1.0
ステレオダイナスコープ 対物レンズ…×0.7
(マイクロイコープ) 電源部 (ヘッド・反射照明) ミラー反射…斜め確認
(ヘッド・リングライト) ベンチスタンドタイプ
レンズユニット部
場所:奈良 照明部 カメラ付き仕様

EG2222-2 日本ヴィジョン 検査機、ICT 光学式卓上検査   マイクロスコープ
光学ビジョン式
台数・・1台
2008/ 本体 リンクスSTEREO 2004/ 対物レンズ…×1.0
ステレオダイナスコープ 対物レンズ…×0.7
(マイクロイコープ) 電源部 (ヘッド・反射照明) ミラー反射…斜め

EG2239-4 OLYMPUS 検査機、ICT 実態顕微鏡(卓上式)  
3台
実態顕微鏡
SZ

LED照明仕様
右・接眼レンズ:HWF10X
左・接眼レンズ:HWF10X

EG2250-1 KOH-YOUNG 検査機、ICT 印刷検査用 NewKY8030-3(M) 2011年 流れ方向可変(前固定)
3Dはんだ検査機(インライン)
基板最大:330×250mm
基板厚: 0.4〜5.0mm
・XY分解能:固定:10um
・Z分解能:0.37um
・検査方式:3D/PSMI法
検査領域設定:ガーバフォーマット対応
半田量不足・半田量過多
半田無し・ブリッジ・位置ズレ.形状異常

EG2254-1 ヤマハ 検査機、ICT 外観検査 YSi-V(Type HS2) 2018年8月 右→左(前固定)
ハイブリッド光学外観検査機   
S/N.Y43509) @二次元検査
A3次元検査(高さ、傾斜3次元検査)高解像1200万画素
・視野全域の高さを一括計測、二次元で難易な部品を検査可能
B4D 4方向アングルカメラ(500万画素カメラ×4個)
・真上カメラ+4方向アングルカメラ(斜めカメラ)
・用途⇒目視判定支援、基板検査
Cレーザー変位計ユニット(赤色半導体レーザー)
D光学検査範囲⇒12μ仕様
検査対象
・部品検査…欠品、ズレ、部品立ち、表裏反転、極性違い、ブリッジ
 異物付着、はんだ少、チップ浮き、リード浮き、
・はんだ印刷検査…未はんだ、ズレ、にじみ、かすれ、ブリッジ
・OCR文字認識
 異物付着、はんだ少、チップ浮き、リード浮き、
・レンズ分解能…12μm(20603サイズ以上)
マーカーペンユニット

EG2256-1 マランツエレクトロニクス 検査機、ICT 1号機
外観検査機
インライン式
L22XHDL-350 2008/12 右→左(前固定)
*基板外観検査装置(インライン式)
*パターンマッチング
*基板最大:350x250mm
*はんだ印刷後、リフロ-、フロー前後兼用
*部品有無.極性.誤部品、カスレ、ニジミ.ズレ.ブリッジ




 

EG2256-2 マランツエレクトロニクス 検査機、ICT 2号機
外観検査機
インライン式
L22XHDL-350 2008/12 左→右(前固定)
*基板外観検査装置(インライン式)
*パターンマッチング
*基板最大:350x250mm
*はんだ印刷後、リフロ-、フロー前後兼用
*部品有無.極性.誤部品、カスレ、ニジミ.ズレ.ブリッジ




 

EG2257-1 オムロン 検査機、ICT 外観検査 VT-S720 2013/5 左→右(前固定)
2D外観検査機
リフロー炉後対応外観検査
最大基板サイズ…80×50〜510×460o
基板厚み…0.4〜4.0o
基板搬入クリアランス…上下40o
カメラ:3CCD カメラ/ テレセントリックレンズ
照明:環状LED(R,G,B)
分解能…15μm
アプリケーションVER. 3.02.00A
イーサネット、RS232C

検査内容…
欠品、部品違い、極性、部品ずれ(X/Y/角度ずれ)、
フィレット(接続ぬれ角度、フィレット高さ、
フィレット長さ、エンド接続幅、サイド接続長さ)
ランド露出、電極ずれ、電極浮き、はんだボール、        ブリッジ、異物
正常稼働品
但し、カメラ欠品
部品取り用で販売
EG2261-1 オムロン 検査機、ICT 外観検査
インライン
VT-S720 2012/ 左→右(前固定)
2D外観検査機
リフロー炉後対応外観検査
最大基板サイズ…80×50〜510×460o
基板厚み…0.4〜4.0o
基板搬入クリアランス…上下40o
カメラ:3CCD カメラ/ テレセントリックレンズ
照明:環状LED(R,G,B)
分解能…15μm
アプリケーションVER. 3.02.00A
イーサネット、RS232C

検査内容…
欠品、部品違い、極性、部品ずれ(X/Y/角度ずれ)、
フィレット(接続ぬれ角度、フィレット高さ、
フィレット長さ、エンド接続幅、サイド接続長さ)
ランド露出、電極ずれ、電極浮き、はんだボール、        ブリッジ、異物
正常稼働品
EG2261-2 オムロン 検査機、ICT 外観検査 VT-S500-U 2013/5 左→右(前固定)
2D外観検査機
リフロー炉後対応外観検査
最大基板サイズ…80×50〜510×460o
基板厚み…0.4〜4.0o
基板搬入クリアランス…上下40o
カメラ:3CCD カメラ/ テレセントリックレンズ
照明:環状LED(R,G,B)
分解能…15μm
アプリケーションVER. 3.02.00A
イーサネット、RS232C

検査内容…
欠品、部品違い、極性、部品ずれ(X/Y/角度ずれ)、
フィレット(接続ぬれ角度、フィレット高さ、
フィレット長さ、エンド接続幅、サイド接続長さ)
ランド露出、電極ずれ、電極浮き、はんだボール、        ブリッジ、異物
正常稼働品
EG2262-1 マス(マランツ) 検査機、ICT
外観検査機
インライン式
VQZHML-350 2012/7 左→右(前固定)
*基板外観検査装置(インライン式)
*パターンマッチング
*基板最大:350x250mm
*部品有無.極性.誤部品、カスレ、ニジミ.ズレ.ブリッジ




 

EG2263-1 ALMAX       (共立システム) 検査機、ICT ICT
ピン方式
Focus-2000
ICT 
ピンボード枚数×6枚
ピン総数・・640ピン

EG2264-1 オムロン 検査機、ICT 外観検査
インライン
VT-RNS2-L3 2012/4 左→右(前固定)
インラインリフロー炉後検査
大型基板
カメラ…3CCDカラーカメラ
照明…環状LED(R/G/B)
画像分解能…15μm
基板厚:0.3〜3.0mm
基板サイズ…W50×L50〜W510×L460mm
クリアランス…基板上20mm/下75mm
はんだ有無、欠品、ブリッジ、浮き、
部品ずれ、フィレット、ぬれ、リー
ド曲がり、 接着剤、はんだボール
備寸法…W688o × D905o × H720o

EG2265-1 オムロン 検査機、ICT 外観検査 VT-S500-U 2012/ 左→右(前固定)
2D外観検査機
オフライン・サーバー付き
リフロー炉後対応外観検査
最大基板サイズ…80×50〜510×460o
基板厚み…0.4〜4.0o
基板搬入クリアランス…上下40o
カメラ:3CCD カメラ/ テレセントリックレンズ
照明:環状LED(R,G,B)
分解能…15μm
アプリケーションVER. 3.02.00A
イーサネット、RS232C

検査内容…
欠品、部品違い、極性、部品ずれ(X/Y/角度ずれ)、
フィレット(接続ぬれ角度、フィレット高さ、
フィレット長さ、エンド接続幅、サイド接続長さ)
ランド露出、電極ずれ、電極浮き、はんだボール、        ブリッジ、異物
正常稼働品
IH2471-1 日置 検査機、ICT ICT
フィクチャレス
1114 2003/11 右→左(前固定)
XYプローブ方式(冶具不要)
アーム数・・4アーム(右2/左2)
ブローワークエリア・・W500×D400
測定時間・・0.05秒/ステップ

IH2471-2 タカヤ 検査機、ICT ICT
フィクチャレス
APT-620S 2012/3 右→左(前固定)
フィクチャーレスインサーキットテスター
多品種小ロット生産に最適
フィクチャー冶具不要
段取り変更簡易
測定用ブローブピン・・・4本(左右各2本)
検査速度(コンビネーション測定)・0.04〜0.05sec/step
検査速度(シングル測定)・0.06〜0.09sec/step
検査ステップ最大・・320,000/step
測定・・抵抗/コンデンサー/コイル/ダイオード/
ツェナーダイオード/トランジスター/直流電圧/ショート &                  オープン/抵抗入りトランジスター
基板最大・・W330×D250mm



15: 検査機、ICT




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